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에너지분산형 X-ray 형광분석기(EDXRF)

보유센터명 공동실험실습관
모델명 및 규격 EPSILON 4 / ED
제작회사 및 국가 PANalytical / 네덜란드
이용수가 기본이용료 - 0원
ED XRF 이용료(/시료) - 30,000원
전처리작업(/시료) - 10,000원
Glass bead 제작(/시료) - 40,000원
pellet 제작(/시료) - 10,000원
분말작업(/시료) - 20,000원
담당자 김도현 tel 055-213-2556 | email ehgus301@cwnu.ac.kr
  • 원리 및 특징
  • - 시료에 X선을 조사해 2차적으로 발생하는 X선(형광 X선)을
    이용하여 C에서 Am까지의 전 원소를 수십 %에서 ppm까지
    넓은 범위에 걸쳐 정성·정량 분석
    - 입사된 X-선이 K Shell의 전자와 충돌하여 그 전자를 궤도에서 밀쳐내게 되면 해당 궤도의 전자는 비어 있게 된다.
    비어있는 K Shell로 외각의 전자가 이동하면서 K Shell과 외각의 에너지 차이에 해당하는 형광 X-선이 발생한다.
    이는 각 원소마다 고유한 값을 가지고 있기 때문에 원소를 정성적으로 알아내고 그 세기를 측정하여 정량적인 분석을 한다.
  • 주요구성 및 성능
  • - Elemental range : C-Am
    - Resolution : 135eV
    - LLD : 1 ppm ? 100%
    - Technology : Energy Dispersive X-ray Fluorescence
  • 이용분야
  • - Elemental analysis
    - Contaminant detection and analysis
    - Elemental quantification
  • 특성화분야
  • - Elemental analysis
    - Contaminant detection and analysis
    - Elemental quantification