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고분해능 X-선 회절분석기(HR/Stress/Texture)

보유센터명 공동실험실습관
모델명 및 규격 D8 Discover / 40kV, 5aixs
제작회사 및 국가 BRUKER / 독일
이용수가 기본이용료 - 0원
data 검색 실비(/건) - 20,000원
texture 측정, stress 측정(/시간) - 50,000원
theta/2theta, 박막측정(/시간) - 50,000원
담당자 유정훈 tel 055-213-2554 | email yoojh@cwnu.ac.kr
  • 원리 및 특징
  • X-선 회절분석기는 고전압으로 하전된 전자가 타겟에 충돌할 때 발생하는 단색 X-선을 시료에 조사하여 이때 발생되는 회절빔을 검출하고, 회절빔의 각도를 해석하여 결정구조를 분석하는 장비
  • 주요구성 및 성능
  • Cu target, 40kV, 30mA, 5axis stage, Scintillation Counter, vantec detector, Parabolic Multilayer Mirror Attachment for high intensity, Asymmetric Channel-cut Monochromator
  • 이용분야
  • - 반도체, 박막, 금속 등의 방향성 재료 등의 전반에 걸쳐 이용가능
    - 반도체 소재 및 박막의 결정구조 및 방향성, 두께, 밀도, 표면거칠기, 결정의 mismatch, 역격자 맵 등의 분석가능하며, 일방향 성장한 시료의 배향성 및 결정구조를 분석할 수 있는 기기생물학, 유전공학, 고분자공학, 화학공학, 금속공학, 지질학등 다양한 분야에 걸쳐 이용
  • 특성화분야