보유장비
| 보유센터명 | 공동실험실습관 |
|---|---|
| 모델명 및 규격 | JEM 2100F(FE-TEM) / 200kV |
| 제작회사 및 국가 | Jeol / 일본 |
| 이용수가 |
기본이용료 - 0원 기기이용료(TEM,CCD,EDS)(/시간) - 160,000원 기기이용료(TEM,CCD,STEM)(시간) - 170,000원 CCD 이미지(/장) - 10,000원 dimple grinder(/시간) - 20,000원 carbon grid 실비 (/개) - 6,000원 기기이용료(TEM,CCD)(/시간) - 130,000원 분말시료 제작 실비(carbon grid)(/개) - 24,000원 EDS 스펙트럼(/point) - 10,000원 집합조직분석(TEM,ASTAR)(시간) - 200,000원 회절분석소프트웨어사용(직접)(/간) - 50,000원 FE-TEM,CCD,EDS협약사용료(/시간) - 112,000원 |
| 담당자 | 유정훈 tel 055-213-2554 | email yoojh@cwnu.ac.kr |
- 원리 및 특징
- 1. 투과전자현미경은 주사전자현미경과 같이 전자총에서 전자를 발생하여 고압으로 가속된 전자 빔을 집속렌즈로 모아서 시편에 투과시켜 대물렌즈로 상을 만들어 중간렌즈로 확대하여 형광판에 영상이 맺히도록 구성되었으며, 전계방사형 투과전자현미경의 경우 최대 150배 까지 확대가 가능하여 나노입자 및 박막의 분석이 가능
- 주요구성 및 성능
- 1. Electron Gun: ZrO/W(100)
2. Accelerating Voltage: 160 ~ 200kV
3. Magnification: ×50 ~ ×1.5M
4. Point Resolution: 0.23nm (lattice resolution : 0.1nm)
5. Tilting Angle: ± 30°
6. Beam Probe Diameter: TEM mode: 2~4nm, EDS, BD, CBD mode: 0.5~2.4nm
7. STEM(Lattice-image resolution): 0.2nm
8. HAADF unit
9. EDS(Energy Dispersive X-Ray Spectrometer): OXFORD Ltd.
- 이용분야
- 1. 소재의 특성평가 및 손상해석을 위한 미세구조의 분석 및 성분분석
- 금속 및 세라믹 소재의 석출물, 전위, 적층결함 등의 형상 관찰과 결정구조 분석
- STEM(Scanning Transmission Electron Microscope)를 통한 이미지분석
- EDS(Energy Dispersive Spectroscope)를 이용한 미소부위의 성분분석
- 나노 분말 및 박막의 고분해능 이미지 (point resolution 0.23nm)
- 특성화분야
- 1. 교내·외의 연구지원 및 산업체의 금속, 세라믹 시편 등의 분석 및 기술지원
2. 첨단 고가기기의 교육, 세미나 및 워크샾 개최
3. 교내·외 연구소 및 기업체 등의 공동 연구과제 추진