장비명 | 의뢰자 | 시간 | 의뢰상태 |
---|---|---|---|
주사전자현미경 | 임 ** | 2023-02-03 10:00 (2시간) |
접수대기 |
고분해능 전계방사 주사전자 현미경 | 양 ** | 2023-02-07 19:00 (4시간) |
접수대기 |
고분해능 전계방사 주사전자 현미경 | 양 ** | 2023-02-02 19:00 (4시간) |
접수대기 |
전계방사형 주사전자현미경(FE-SEM) | 이 ** | 2023-02-02 13:30 (4시간) |
접수대기 |
고분해능 전계방사 주사전자 현미경 | 최 ** | 2023-02-13 13:00 (4시간) |
접수대기 |
원편광 이색성 분광광도계 | 신 ** | 2023-02-08 10:30 (4시간) |
접수대기 |
고분해능 전계방사 주사전자 현미경 | 손 ** | 2023-02-10 09:30 (2시간) |
접수대기 |
주사전자현미경 | 문 ** | 2023-02-01 13:00 (5시간) |
접수대기 |
열분석기 | 이 ** | 2023-02-04 09:00 (15시간) |
접수대기 |
열분석기 | 이 ** | 2023-02-03 09:00 (15시간) |
접수대기 |
열분석기 | 이 ** | 2023-02-02 09:00 (15시간) |
접수대기 |
고분해능 전계방사 주사전자 현미경 | 정 ** | 2023-02-07 13:30 (5시간) |
접수대기 |
고분해능 전계방사 주사전자 현미경 | 이 ** | 2023-02-14 09:00 (8시간) |
결과대기 |
입도분석기 | 최 ** | 2023-02-07 10:00 (8시간) |
접수대기 |
주사전자현미경 | 이 ** | 2023-02-02 09:00 (3시간) |
접수대기 |
주사전자현미경 | 이 ** | 2023-02-01 09:00 (3시간) |
접수대기 |
X-ray 3D CT Scanner 450 | 배 ** | 2023-02-01 09:00 (9시간) |
결과대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 구 ** | 2023-02-17 09:00 (9시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 구 ** | 2023-02-13 09:00 (9시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 손 ** | 2023-02-06 15:00 (1시간) |
접수대기 |
저전압주사전자현미경(LV-SEM) | 정 ** | 2023-02-06 16:00 (1시간) |
접수대기 |
X-선 광전자분광분석기(XPS) | 이 ** | 2023-02-06 09:00 (8시간) |
접수대기 |
라만 분광광도계 | 이 ** | 2023-02-06 09:00 (8시간) |
접수대기 |
저전압주사전자현미경(LV-SEM) | 강 ** | 2023-02-10 09:00 (3시간) |
접수대기 |
주사전자현미경 | 양 ** | 2023-02-02 13:00 (5시간) |
접수대기 |
고분해능 전계방사 주사전자 현미경 | 이 ** | 2023-02-07 09:30 (3시간) |
접수대기 |
열분석기 | 이 ** | 2023-02-01 09:00 (8시간) |
접수대기 |
X-선 회절장치 II (분말용) | 양 ** | 2023-02-09 09:00 (8시간) |
접수대기 |
전계방사형 주사전자현미경(FE-SEM) | 양 ** | 2023-02-17 13:30 (4시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 백 ** | 2023-02-15 14:00 (2시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 백 ** | 2023-02-08 18:00 (2시간) |
접수대기 |
액체크로마토그래프 질량분석기(LC/MS) | 박 ** | 2023-02-08 09:00 (20시간) |
접수대기 |
액체크로마토그래프 질량분석기(LC/MS) | 박 ** | 2023-02-07 09:00 (20시간) |
접수대기 |
액체크로마토그래프 질량분석기(LC/MS) | 박 ** | 2023-02-06 09:00 (20시간) |
접수대기 |
고분해능 전계방사 주사전자 현미경 | 이 ** | 2023-02-09 13:30 (2시간) |
접수대기 |
고분해능 전계방사 주사전자 현미경 | 강 ** | 2023-02-09 10:00 (2시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 이 ** | 2023-02-14 09:00 (7시간) |
접수대기 |
X-선 회절장치 II (분말용) | 이 ** | 2023-02-06 10:00 (2시간) |
접수대기 |
X-선 회절장치 II (분말용) | 최 ** | 2023-02-08 13:00 (5시간) |
결과대기 |
저전압주사전자현미경(LV-SEM) | 한 ** | 2023-02-07 09:00 (7시간) |
접수대기 |
비표면적분석기Ⅲ(BETⅢ) | 김 ** | 2023-02-25 10:00 (3시간) |
접수대기 |
X-선 회절장치 II (분말용) | 구 ** | 2023-02-07 09:00 (9시간) |
접수대기 |
X-선 회절장치 II (분말용) | 곽 ** | 2023-02-06 13:00 (3시간) |
접수대기 |
전계방사형 주사전자현미경(FE-SEM) | 조 ** | 2023-02-13 09:00 (8시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 구 ** | 2023-02-10 09:00 (9시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 구 ** | 2023-02-08 09:00 (9시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 임 ** | 2023-02-16 09:00 (9시간) |
접수대기 |
저전압주사전자현미경(LV-SEM) | N ************ | 2023-02-10 02:00 (3시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 이 ** | 2023-02-09 13:00 (4시간) |
접수대기 |
고분해능 투과전자현미경(FE-TEM) | 이 ** | 2023-02-07 09:00 (7시간) |
결과대기 |